Elmélet: 0 %

Gyakorlat: 0 %

A tantárgy tantervi helye: 6. félév

Munkarend: Levelező

Előtanulmányi feltételek: LabView programozás

Értékelés: kollokvium

Tantárgy besorolása:

Oktatás nyelve: Magyar

Tantárgyfelelős: Dr. Pintér István

Felelős tanszék: Informatika Tanszék

Tantárgy oktatója(i): Vincze Imre

Ellenőrzésért felel: Dr. Pintér István

Tárgy oktatásának célja:
A tárgy célja az ipari folyamatokban alkalmazott mérőrendszerek, DAQ rendszerek alapfogalmainak ismertetése, beleértve a korszerű, digitális jel- és képfeldolgozási eszközöket és módszereket is.

Elsajátítandó ismeretanyag:

Mérőrendszerek elemei, DAQ rendszerek helye az ipari folyamatokban. Egyszerű, sokcsatornás, és számítógépes mérőrendszer. Mérőjelek, mérőszenzorok típusai, működése, alkalmazása. Mintavételezés, kvantálás, A/D, D/A átalakítók, és alkalmazásuk. A digitális jelfeldolgozás alapjai és ipari alkalmazásai. A digitális képfeldolgozás alapjai és ipari alkalmazásai. A mérésautomatizálás, a jel- és képfeldolgozás fejlődésének távlatai.

Elsajátítandó szakmai kompetenciák (tudás, képesség, attitűd, autonómia és felelősség, további szakmai kompetenciák):
Tudása:

Képességei:

A készségszintű ismeretek megszerzése érdekében a laborgyakorlatok célja a gyors alkalmazásfejlesztéshez rendelkezésre álló eszközök megismertetése (LabView, intelligens kamerák).

Attitűdje:

Autonómia és felelősség:

További szakmai kompetenciák:

A számonkérés és értékelés rendszere:
Félévközi tanulmányi követelmények:
A feladatokkal, tanulmánnyal és a pontszerző dolgozattal legalább TVSz szerinti minimum elérése.
Vizsgakövetelmények:

A vizsga írásbeli, de a tárgyból megajánlott vizsgajegy is adható az érvényes TVSz szerint.

Tanulmányi segédanyagok, laborháttér:

Kötelező irodalom:

Hegedűs Zoltán: Ipari rendszertechnika I., KF GAMF Kar, Kecskemét, 2005., H-358. Pintér István: Digitális jelfeldolgozás. KF-GAMFK-H-3303.

Ajánlott irodalom:

Schnell László: Jelek és rendszerek méréstechnikája, Tankönyvkiadó, Budapest, 1991. Ajtonyi-Gyuricza: Programozható irányítóberendezések, hálózatok és rendszerek. MK. Budapest 2002 M. Sonka, V. Hlavac, R. Boyle: Image Processing, Analysis and Machine Vision. Thomson, 2008. Herbert Bernstein: Messelektronik und Sensoren: Grundlagen der Messtechnik, Sensoren, analoge